제품소개

디스플레이 제조/검사 장비

제목 LED Module Inspection System
LED Module Inspection System





* 개발 목적
  : LED Module을 생산하는 공정 중 후 공정에 각각 검사하는 AOI, 과 특성, 렌즈 Shift 검사를 한 시스템에서 검사할 수 있는 시스템


* 개발 내용
  : 고속화 Detector를 적용, 제품 전체를 스캔하듯이 데이터를 측정하여 이 데이터를 모터의 구동 특성(가 감속 구간 등)을 고려, 거리 Data로 Fitting 하여 제품의 특성(LED Chip 위치, 렌즈 틀어짐, 광학적 분석 데이터 등)을 검사


* 기타
  - 2014년 1월 특허 등록


[ 전용 소프트웨어 ]